Suchkriterien
Ihre Suchkriterien: Autor "Dep. Ing. Cienc. Comput. Univ. "Jaume I", Castellón de la Plana, España"| Informazioni | |
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Titel:
Análisis microestructural comparativo (difracción de rayos X y FESEM) en sepiolita
Quelle:
Boletín de la Sociedad Española de Cerámica y Vidrio
Autoren:
Bastida, J. | Pardo, P. | Kojdecki, M. | Ramo, P. | Dep. Geol. Univ. Valencia, Burjassot (Valencia), España | Inst. Mat. Criptol. Wojskowa Acad., Varsovia, Polonia | Dep. Ing. Cienc. Comput. Univ. "Jaume I", Castellón de la Plana, España
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