Criterios de búsqueda
Se utilizaron los siguientes criterios en la búsqueda: Autor "Arizmendi, L."Informazioni | |
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Tìtulo:
Materiales electroópticos para optoelectrónica.
Fuente:
Mundo electrónico
Autores:
Arizmendi, L. | Zaldo, C. | Cabrera, J.M. | Agullo Lopez, F.
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Tìtulo:
Factores que afectan a la uniformidad de la rugosidad de las superficies metálicas III. Influencia de las dimensiones del estilete-palpador en los resultados de la medida.
Fuente:
Anales de física. Serie B: Aplicaciones, métodos e instrumentos
Autores:
Arizmendi, L. | Perez, M.C. | Rincon, A. | Arizmendi, J.M. | Inst. Quim. Fis. "Rocasolano" [CSIC], Madrid, España
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Tìtulo:
Factores que afectan a la uniformidad de la rugosidad de las superficies metálicas. II. Influencia del método de preparación en las magnitudes del relieve.
Fuente:
Anales de física. Serie B: Aplicaciones, métodos e instrumentos
Autores:
Arizmendi, L. | Perez, M.C. | Rincon, A. | Arizmendi, J.M. | Inst. Quim. Fis. "Rocasolano" [CSIC], Madrid, España
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Tìtulo:
Factores que afectan a la uniformidad de la rugosidad de las superficies metálicas. I. Influencia de la dirección del proceso de acabado y de la dirección de la medida.
Fuente:
Anales de física. Serie B: Aplicaciones, métodos e instrumentos
Autores:
Arizmendi, L. | Perez, M.C. | Rincon, A. | Arizmendi, J.M. | Inst. Quim. Fis. "Rocasolano" [CSIC], Madrid, España
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