Critères de recherche
Recherche effectuée avec les critères: Auteur "Cent. Español de Metrología, España"| Informazioni | |
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Titre:
La normalización en el sector del instrumental topográfico
Source:
Topografía y Cartografía
Auteurs:
Sevilla Antón, Carmen | García Asenjo, Luis | Bisbal Martín, Javier | Minist. Industria, Turismo y Comercio, Cent. Español de Metrología, España | Univ. Politécnica de Valencia, Dep. Ingeniería Cartográfica Geodesia y Fotogrametría, España
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Titre:
La normalización en el sector del instrumental
Source:
Revista de la CECEL / Congreso Nacional TOP-CART. IX. 2008. Valencia
Auteurs:
Sevilla Anton, C. | Bisbal Martín, J. | García-Asenjo, L. | Minist. Industria, Turismo y Comercio, Cent. Español de Metrología, España
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Titre:
Calibración deTeodolitos mediante Polígonos Opticos
Source:
Topografía y Cartografía
Auteurs:
Bisbal Martín, Javier | Sánchez Ruiz, Javier | Sáenz Nuño, María Ana | Cent. Español de Metrología, España | Univ. Pontifica Comillas, Madrid, España
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Titre:
La calidad en el sector topográfico: organismos competentes y situación actual
Source:
Topografía y Cartografía
Auteurs:
Sevilla Antón, Carmen | Bisbal Martín, Javier | Cent. Español de Metrología, España
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